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半導體低壓漏電起痕試驗儀產品介紹
日期：2024-10-16 12:15
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摘要：半導體低壓漏電起痕試驗儀采用計算機控制，通過人機對話完成固體絕緣材料在低壓電場和污染介質聯合作用下的耐受能力。設備具備數據數顯、存儲功能、過流保護、過壓保護和門限保護功能。廣泛應用于電工電子、電器、半導體封裝和信息技術設備等領域，并用于電機等行業(yè)的電工用塑料、樹脂膠、絕緣漆，以及層壓板等絕緣材料的耐電弧性能測試。
半導體低壓漏電起痕試驗儀 產品介紹
產品概述
耐漏電起痕試驗（電痕化指數試驗）是根據 UL746A 、IEC60112 、IEC60335、IEC884-1、 GB2099.1、GB/T4207、GB4706.1 ASTMD 3638-92 等標準規(guī)定的模擬仿真試驗項目。耐漏電起痕試驗（電痕化指數試驗）是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸 ( 2mm × 5mm ) 的鉑電極之間，施加某一電壓并定時 (30s) 定高度 ( 35mm ) 滴下規(guī)定液滴體積的導電液體 (0.1%NH4CL) ，用以評價固體絕緣材料表面在電場和潮濕或污染介質聯合作用下的耐漏電性能，測定其相比電痕化指數 (CTI) 和耐電痕化指數(PTI) 。電痕化是指固體絕緣材料在電應力和電解雜質的聯合作用下，在表面（或內部）產生導電通道。產品參數
產品型號：HCLD-21. 試驗電壓：50V-800V可調（可選200V-1000V可調）
2. 控制方式：西門子PLC+10寸觸摸屏控制系統(tǒng)
3. 滴液高度：30～40mm 連續(xù)可調
4. 試驗電壓壓降：≤5%
5. 通滴液次數：0~9999次可調
6. 電極距離：4.0mm ± 0.1mm ，夾角 60°±5
7. 電極壓力：1.0±0.05N(可調)
8. 滴液間隔時間：可任意設定
9. 試驗電流量程：3A
10. 試驗艙材料：PC塑料
11. 滴液大小：（20.0～23.0）mm3 連續(xù)可調
12. 操控方式：10寸觸摸屏
13. 電極材料：電極頭鉑金、電極桿純銀
14. 漏電判斷：電流大于0.5A并維持2秒鐘切斷
15. 試驗終止：50滴或100滴及漏電流≥ 0.5A并維持時間≥2s時自動終止
16. 供電電源：220V 50Hz 10A
